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产物信息
2026-05-15
产物信息
NEW
尼得科推出面向半导体及印刷电路板的AI检测与丈量处置计划——表面检测装备“AURCA”系列
致列位
- 公 司 名
- 尼得科紧密检测科技股份有限公司
- 代 表 人
- 总裁 山崎秀和
- 地 址
- 日本都门府向日市Nidec Park 33番地 C栋
尼得科紧密检测科技股份有限公司（以下简称“本公司”）将起头发卖用于电子电路板和半导体硅晶圆的AI检测与丈量处置计划——表面检测装备“AURCA”系列。
AURCA产物表面
■ 产物开辟背景
跟着最近几年出处AI引领的电子装备市场不时扩展，对日趋微细化、庞杂化的半导体制作工艺提出了高靠得住性请求。这次，作为处置制作现场课题的处置计划，我司开辟了“AURCA”系列表面检测装备，以应答如传统图象检测方式难以检测的缺点和进步良率等课题。
跟着最近几年出处AI引领的电子装备市场不时扩展，对日趋微细化、庞杂化的半导体制作工艺提出了高靠得住性请求。这次，作为处置制作现场课题的处置计划，我司开辟了“AURCA”系列表面检测装备，以应答如传统图象检测方式难以检测的缺点和进步良率等课题。
■ “AURCA”系列的特色
1. 高精度缺点检测（AI图象处置）：经由过程咱们独占的AI算法，可以或许高精度地检测出传统检测方式难以辨认的纤细缺点和非常。
2. 全黑色光学检测：经由过程基于高程度光学设想的全黑色图象收罗，精确捉拿方针物体的材质和高度变更，大幅削减误检。
3. 多光源图象单次扫描同时处置：按照待检测缺点优化设置装备摆设多个光源停止同步扫描，刹时检测一切范例的缺点。
1. 高精度缺点检测（AI图象处置）：经由过程咱们独占的AI算法，可以或许高精度地检测出传统检测方式难以辨认的纤细缺点和非常。
2. 全黑色光学检测：经由过程基于高程度光学设想的全黑色图象收罗，精确捉拿方针物体的材质和高度变更，大幅削减误检。
3. 多光源图象单次扫描同时处置：按照待检测缺点优化设置装备摆设多个光源停止同步扫描，刹时检测一切范例的缺点。
■ “AURCA”系列供给的代价
“AURCA”不只限于检测不良品，还经由过程AI的高等丈量和阐发数据，为制作现场的良率改良做出进献。
1. 阐发缺点的“真因”：具体阐发AI检测到的缺点外形和产生趋向。不只限于简略的及格与否判定，还撑持说明“为什么会产生该缺点”的机制。
2. 向制作工序的间接反应：经由过程将阐发成果敏捷反应给前道工序，有助于从头审阅制作工序和拟定防备办法。
3. 完成延续晋升良率的轮回：经由过程延续运转“查抄→阐发→反应→工艺改良”这一轮回，最大限制地进步客户工场的全体良率，为下降制作本钱和进步产物靠得住性做出严重进献。
“AURCA”不只限于检测不良品，还经由过程AI的高等丈量和阐发数据，为制作现场的良率改良做出进献。
1. 阐发缺点的“真因”：具体阐发AI检测到的缺点外形和产生趋向。不只限于简略的及格与否判定，还撑持说明“为什么会产生该缺点”的机制。
2. 向制作工序的间接反应：经由过程将阐发成果敏捷反应给前道工序，有助于从头审阅制作工序和拟定防备办法。
3. 完成延续晋升良率的轮回：经由过程延续运转“查抄→阐发→反应→工艺改良”这一轮回，最大限制地进步客户工场的全体良率，为下降制作本钱和进步产物靠得住性做出严重进献。